透射电镜与扫描电镜

SEM（扫描电子显微镜/显微镜）和TEM（透射电子显微镜/显微镜）都指电子显微镜中使用的仪器和方法。

两者有许多相似之处。这两种都是电子显微镜的一种，都能观察、研究和检验样品中微小的亚原子粒子或成分。两者都使用电子（特别是电子束），即原子的负电荷。此外，使用中的两种样品都需要“染色”或与特定元素混合以产生图像。这些仪器产生的图像被高度放大，分辨率很高。

然而，扫描电镜和透射电镜也有一些不同之处。扫描电镜的方法是基于散射电子，透射电镜的方法是基于透射电子。扫描电镜中的散射电子分为背散射电子和二次电子。然而，TEM中没有其他的电子分类。

扫描电镜中的散射电子在显微镜采集并计数散射电子后产生样品的图像。在TEM中，电子直接指向样品。通过样品的电子是图像中被照亮的部分，分析的焦点也不同。扫描电镜主要观察样品的表面及其成分。另一方面，TEM试图看到表面内外的东西。扫描电镜（SEM）对样品进行了逐点显示，透射电镜（TEM）对样品进行了整体显示。扫描电镜也提供了一个三维图像，而透射电镜提供了一个二维图片。

在放大率和分辨率方面，TEM比SEM有优势。TEM的放大倍数高达5000万倍，而SEM的最大放大倍数只有200万倍。TEM的分辨率为0.5埃，SEM的分辨率为0.4纳米。然而，与TEM产生的图像相比，SEM图像具有更好的景深。另一个不同点是样品的厚度、“染色”和制备。TEM中的样品比SEM样品切割得更薄。此外，SEM样品被捕获散射电子的元素“染色”。

在扫描电镜中，样品制备在专用铝桩上，并放置在仪器腔室的底部。样品的图像被投影到CRT或类似电视的屏幕上。另一方面，TEM要求样品在TEM网格中制备，并放置在显微镜专用腔室的中间。图像是由显微镜通过荧光屏产生的。

扫描电镜的另一个特点是样品所在的区域可以旋转不同的角度，透射电镜比扫描电镜发展得早。TEM是由Max Knoll和Ernst Ruska于1931年发明的，而SEM则是在1942年发明的，由于扫描过程的复杂性，它的发展较晚。

总结：

1.扫描电镜和透射电镜是两种电子显微镜，是观察和检验小样品的工具。这两种仪器都使用电子或电子束。这两种工具产生的图像都被高度放大并提供高分辨率。2.每种显微镜的工作原理与另一种截然不同。扫描电镜通过释放电子扫描样品表面，使电子在撞击时反弹或散射。这台机器收集散射的电子并产生图像。这个图像在一个类似电视的屏幕上显示出来。另一方面，TEM通过引导电子束穿过样品来处理样品。使用荧光屏可以看到结果。3.图像也是两种工具之间的一个不同点。SEM图像是三维的，是精确的表示，而TEM图像是二维的，可能需要一些解释。在分辨率和放大率方面，TEM比SEM具有更多的优势。