點缺陷和線缺陷的關鍵區別在於點缺陷只發生在晶格的某一點或其周圍，而線缺陷發生在晶格中心的原子平面上。
晶體缺陷是晶格重複圖案的缺陷。這些缺陷破壞了晶格的規則模式。晶體缺陷有幾種類型，如點缺陷、線缺陷、平面缺陷和體缺陷。點缺陷的可視化很容易，但是線缺陷的可視化卻很困難。
目錄
1. 概述和主要區別
2. 什麼是點缺陷
3. 什麼是線路缺陷
4. 並列比較-點缺陷與線缺陷的表格形式
5. 摘要
什麼是點缺陷(point defect)？
點缺陷是在晶格的單個點上或周圍發生的不規則。通常，這種缺陷的形成要麼是由於額外原子的存在，要麼是由於晶格中原子的損失。因此，這些缺陷相當小。然而，有時也會有一些更大的缺陷。我們稱之為位錯環。
圖01：不同點缺陷
點陣中可以出現幾種形式的點缺陷。
- 空位缺陷
- 間隙缺陷
- 弗蘭克爾缺陷
- 替代缺陷
- 肖特基缺陷
什麼是線路缺陷(line defect)？
線缺陷是晶體缺陷的一種形式，其中缺陷發生在晶格中心的原子平面上。因此，這些都是線性缺陷。在那裡晶格的原子排列不齊。這些缺陷的兩種主要形式是：；
- 邊緣位錯
- 螺釘脫位
有時我們可以看到這兩種缺陷的綜合效應。我們稱之為混合位錯。邊緣位錯是由於晶體中間原子平面的丟失而產生的。在這些位錯中，相鄰的原子平面變得不筆直；在缺失的平面周圍彎曲，使晶體結構在兩邊排列整齊。
圖02：邊緣錯位
螺釘脫位很難想象。在那裡，晶體中的原子平面沿著位錯線的螺旋路徑運動。
點缺陷(point defect)和線路缺陷(line defect)的區別
點缺陷是在晶格的單個點上或周圍發生的不規則。這些缺陷的形成要麼是由於一個額外的原子，要麼是由於原子的損失。此外，點缺陷也很容易可視化。線缺陷是晶體缺陷的一種形式，其中缺陷發生在晶格中心的原子平面上。當一個原子平面錯位時，就會出現這些缺陷。此外，很難想象線缺陷。這是點缺陷和線缺陷的主要區別。
總結 - 點缺陷(point defect) vs. 線路缺陷(line defect)
晶體缺陷是指晶格中的缺陷。點缺陷和線缺陷的區別在於，點缺陷只發生在晶格的某一點或其周圍，而線缺陷發生在晶格中心的原子平面上。
引用
1“晶體缺陷”，維基百科，維基媒體基金會，2018年6月10日。這裡有2個。“晶體缺陷。”Mannich Reaction | Mannich Reaction Mechani** |【電子郵件保護】可在此處找到
2“晶體缺陷”，曼尼希反應|曼尼希反應機理|
