什么是不同类型的扫描显微镜？(the different types of scanning microscopes?)

扫描显微镜有几种类型，包括扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜。通常，扫描显微镜由一个探针或一束扫描样品表面的电子组成。扫描显微镜和样品之间的相互作用产生可测量的数据，例如电流的变化、探针偏转或二次电子的产生。该数据用于在原子水平上创建样品表面的图像。。...

扫描显微镜有几种类型，包括扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜。通常，扫描显微镜由一个探针或一束扫描样品表面的电子组成。扫描显微镜和样品之间的相互作用产生可测量的数据，例如电流的变化、探针偏转或二次电子的产生。该数据用于在原子水平上创建样品表面的图像。。

扫描电子显微镜是用来给样品成像的几种扫描显微镜之一。显微镜检测电子束与样品表面原子相互作用产生的信号。通常会产生几种类型的信号，包括光、x射线和电子。

这种显微镜可以测量几种类型的电子，包括透射电子、背散射电子和二次电子。通常，扫描电子显微镜有一个二次电子探测器，二次电子是由一次辐射源即电子束产生的错位电子。二次电子在原子水平上提供有关表面物理结构的信息。一般来说，显微镜的成像面积为1-5纳米。。

使用探针的扫描显微镜，如扫描隧道显微镜，比扫描电子显微镜产生的图像分辨率更高。扫描隧道显微镜具有一个非常靠近样品的导电尖端。导电尖端和样品之间的电压差会导致电子从样品隧穿到尖端。

当电子穿过时，形成并测量隧道电流。随着导电尖端的移动，电流发生变化，反映出样品表面的高度或密度差异。利用这些数据，在原子水平上构建表面的图像。

原子力显微镜是另一种以探针为特征的扫描显微镜。它由一个悬臂和一个靠近样品表面的尖头组成。当尖端接近样品时，尖端和样品之间的力会导致悬臂偏转。通常力包括机械接触力、范德华力和静电力。

通常，使用聚焦在悬臂顶部表面的激光测量悬臂挠度。偏转显示了曲面在特定点的物理形状。移动样品和探针以扫描整个表面。图像由激光获得的数据构成。

扫描电子显微镜(scanning electron microscope)和透射电子显微镜(transmission electron microscope)的区别

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