【薄膜厚度测量】的知识问答

薄膜厚度测量

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什么是椭圆仪？(an ellipsometer?)

椭偏仪是一种光学技术，用于测量极薄薄膜或材料层的厚度和光学特性。可测量的特性是折射率，即光线弯曲的程度，以及被称为吸收系数的光吸收水平。椭偏仪是用来进行这些测量的设备。...